L’incessante réduction de la taille des transistors rend l’électronique généralement plus sensible à l’effet des radiations cosmiques, ce qui a un impact sur la fiabilité des systèmes embarqués sujets à ces radiations. Certains intervenants du secteur de l’aéronautique n’hésitent pas à identifier les radiations comme les causes de la recrudescence qu’ils ont notées quant au nombre de cas de dysfonctionnement d’équipements, dysfonctionnement qui disparaît après que les équipements fautifs aient été réinitialisés. Cette sensibilité accrue des modules électroniques face aux radiations atteint un point tel que même les fournisseurs d’équipements à usage ininterrompu utilisés au niveau du sol, tels les serveurs informatiques, s’y intéressent de plus en plus. Une des pistes de solutions pouvant être envisagées est l’utilisation des circuits intégrés qualifiés dits résistants aux radiations. Cependant, leur coût est souvent jugé trop élevé par rapport à celui des circuits intégrés conventionnels. De plus, ils offrent une capacité d’intégration et une performance bien inférieures, étant généralement quelques noeuds technologiques en retard sur les circuits commerciaux conventionnels en raison des modifications à apporter aux procédés de fabrication. Par conséquent, mêmes les concepteurs de systèmes embarqués exposés aux radiations (ex. technologie spatiale) sont de plus en plus obligés d’utiliser des circuits intégrés conventionnels (non qualifiés), dont les circuits programmables de type FPGA.
L’objectif principal de ce projet est l’adaptation des méthodologies conventionnelles d’intégration (du design jusqu’au test) des systèmes embarqués afin de tenir compte de l’effet des radiations cosmiques sur les modules électroniques au niveau des requis de fiabilité, en présence de circuits programmables de type FPGA.
Partenaires académiques:
- Claude Thibeault (École de technologie supérieure, ETS)
- Yves Audet (École polytechnique)
Étudiants :
- Anis Souari, Doctorat (co-direction, en cours), ÉTS, « Stratégie de conception facilitant les tests en pré-certification pour la robustesse à l’égard des radiations, » de 2011/5 à -.
- Mostapha Darvishi, Doctorat (co-direction, en cours), Polytechnique, « Verification of Propagation Delay in FPGAs Caused by Single Event Upset (SEU) Induced by Cosmic Rays, » de 2013/5 à -.